晶圓切割製程

Wafer cutting process
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雷射切割(Laser Dicing Process)

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ProPowertek宜錦能為您做什麼?

ProPowertek宜錦採用國際大廠迪斯科(DSICO Corporation) 雷射切割機台,可提供多樣化的切割服務,包含雷射切割(Laser Dicing)、雷射開槽(Laser Grooving),搭配刀片切割(Blade Dicing) 完成不同組合的晶圓切割製程,適合厚金屬、高硬度材質、第三代化合物半導體產品。

AOI檢驗流程(依需求)

機台會有固定時間,週期性的進行機台穩定度的檢測,利用控片分別進行各反應腔(Chamber)的測試,在ICP反應腔中會進行蝕刻率測試,在鋁(Al)、鈦(Ti)、鎳釩(NiV)、銀(Ag)則會分別進行沈積率及均勻性的預測試,確定了機台狀況一如往常的平穩後,產品會依照排程開始進入生產,客戶的晶圓在完成入站檢驗 (IQC) 後,客戶可要求進行沈積前DHF清洗或是直接進入濺鍍機,按照客戶指示之種類及厚度及ICP條件,進行金屬沈積 (Sputtering Deposition),完成金屬沈積後,可依客戶需求進行沈積後之氮氣退火,或是直接進行出站檢驗 (OQC)。

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ProPowertek宜錦服務優勢

晶圓切割(Die Saw)均採用全套DISCO全自動機台,同時擁有刀片切割與雷射切割機台,雷射切割機台提供切割(Dicing)或開槽(Laser Grooving)服務。
靈活應對不同材質在切割過程中所遇到的挑戰,完成刀片切割(BD)、雷射全切割(LD)、雷射開槽(LG)、雷射開槽(LG)+刀片切割(BD)、刀片切割(BD)+雷射切割(LD)等不同組合。
宜錦擁有AOI自動光學檢測機台,為客戶提供切割後的晶粒檢測服務,搭配CP晶圓測試,合併完整的晶圓Map,提供後段封裝做Good Die挑選。

案例分享

⦁ 背面銅(Cu) 金屬矽晶圓搭配刀片切割(先)與雷射切割(後)

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OM 光學顯微鏡斷面照片

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SEM 電子顯微鏡斷面照片

應用範圍

⏺︎ 一般晶圓切割、多晶片(MPW)晶圓切割、GaN on Si切割、雷射開槽(Laser Grooving)、厚金屬切割