AOI自動光學檢測方案 AOI automatic optical inspection solution Home /AOI檢測製程 AOI檢測製程(Auto Optical Inspection) ProPowertek宜錦能為您做什麼? ProPowertek宜錦擁有高解析度自動光學檢測機台(AOI),可為客戶提供一般晶圓在厚/薄片的進料或出貨檢驗,也提供晶圓貼框後的檢驗。 AOI檢驗流程(依需求) 機台會有固定時間,週期性的進行機台穩定度的檢測,利用控片分別進行各反應腔(Chamber)的測試,在ICP反應腔中會進行蝕刻率測試,在鋁(Al)、鈦(Ti)、鎳釩(NiV)、銀(Ag)則會分別進行沈積率及均勻性的預測試,確定了機台狀況一如往常的平穩後,產品會依照排程開始進入生產,客戶的晶圓在完成入站檢驗 (IQC) 後,客戶可要求進行沈積前DHF清洗或是直接進入濺鍍機,按照客戶指示之種類及厚度及ICP條件,進行金屬沈積 (Sputtering Deposition),完成金屬沈積後,可依客戶需求進行沈積後之氮氣退火,或是直接進行出站檢驗 (OQC)。 ProPowertek宜錦服務優勢 ▶ 宜錦擁有AOI自動光學檢測機台,可提供不同站點的光學檢驗,IQC站點為客戶把關一般晶圓上游來料品質,製程中或出貨檢驗確保製程品質。▶ AOI自動光學檢測後,提供更好的良率管控,可合併上游或CP晶圓測試Map,提供後段封裝做Good Die挑選,減少封裝成本。▶ AOI自動光學檢測,全自動化減少人員的接觸機會。同時提供更好的異常分析效果,收集更明確的異常發生位置,減少分析時間。▶ 工程師團隊背景多元化,有來自前段晶圓代工廠、晶圓薄化專家、後段封裝廠,熟悉前中後段之製程整合及分析,能協助客戶快速開發、解決問題、穩定量產。 案例分享 使用AOI 自動光學檢測確認晶片缺點及良率管控 使用AOI 自動光學檢測確認晶片缺點分佈共通性,收斂方向並加速分析 應用範圍 ⏺︎ 一般8”晶圓、厚/薄片晶圓、貼框後晶圓、切割後晶圓、CP晶圓測試後檢測。 閱讀更多