AOI自动光学检测方案 AOI automatic optical inspection solution Home /AOI检测制程 AOI检测制程(Auto Optical Inspection) ProPowertek宜锦能为您做什么? ProPowertek宜锦拥有高解析度自动光学检测机台(AOI),可为客户提供一般晶圆在厚/薄片的进料或出货检验,也提供晶圆贴框后的检验 AOI检验流程(依需求) 機台會有固定時間,週期性的進行機台穩定度的檢測,利用控片分別進行各反應腔(Chamber)的測試,在ICP反應腔中會進行蝕刻率測試,在鋁(Al)、鈦(Ti)、鎳釩(NiV)、銀(Ag)則會分別進行沈積率及均勻性的預測試,確定了機台狀況一如往常的平穩後,產品會依照排程開始進入生產,客戶的晶圓在完成入站檢驗 (IQC) 後,客戶可要求進行沈積前DHF清洗或是直接進入濺鍍機,按照客戶指示之種類及厚度及ICP條件,進行金屬沈積 (Sputtering Deposition),完成金屬沈積後,可依客戶需求進行沈積後之氮氣退火,或是直接進行出站檢驗 (OQC)。 ProPowertek宜锦服务优势 ▶ 宜锦拥有AOI自动光学检测机台,可提供不同站点的光学检验,IQC站点为客户把关一般晶圆上游来料品质,制程中或出货检验确保制程品质。▶ AOI自动光学检测后,提供更好的良率管控,可合并上游或CP晶圆测试Map,提供后段封装做Good Die挑选,减少封装成本。▶ AOI自动光学检测,全自动化减少人员的接触机会。同时提供更好的异常分析效果,收集更明确的异常发生位置,减少分析时间。▶ 工程师团队背景多元化,有来自前段晶圆代工厂、晶圆薄化专家、后段封装厂,熟悉前中后段之制程整合及分析,能协助客户快速开发、解决问题、稳定量产。 案例分享 使用AOI 自动光学检测确认晶片缺点及良率管控 使用AOI 自动光学检测确认晶片缺点分布共通性,收敛方向并加速分析 应用范围 ⏺︎ 一般8”晶圆、厚/薄片晶圆、贴框后晶圆、切割后晶圆、CP晶圆测试后检测。 阅读更多